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検索キーワード:(標準分類: TS173)
該当件数:3件
Proceedings : Annual Reliability and Maintainability Symposium
1987 - 1999. - [New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers] , 1972-
図書 <1000684362>
Probabilistic risk assessment : reliability engineering, design, and analysis / Ernest J. Henley, Hiromitsu Kumamoto
New York : IEEE Press , c1992
図書 <1000444734>
Statistical methods for reliability data / William Q. Meeker, Luis A. Escobar
New York : Wiley , c1998. - (Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statistics)
図書 <0219026880>