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検索キーワード:(件名: Semiconductors Testing Congresses)
該当件数:2件
ICMTS 1998 : proceedings of the 1998 International Conference on Microelectronic Test Structures, March 23-26, 1998, Kanazawa, Japan / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
: softbound,: casebound,: microfiche. - Piscataway : IEEE Service Center , c1998
図書 <1001000974>
The changing philosophy of test : International Test Conference, 1990 proceedings : September 10-14, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press , 1990
図書 <1000654808>