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検索キーワード:(書名(完全形): Frontiers in electronic testing)
該当件数:7件
Test resource partitioning for system-on-a-chip / Krishnendu Chakrabarty, Vikram Iyengar, Anshuman Chandra
Boston : Kluwer Academic Publishers , c2002. - (Frontiers in electronic testing ; 20)
図書 <1001394343>
Fault diagnosis of analog integrated circuits / Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua and Satyabroto Sinha
: hb. - Dordrecht : Springer , c2005. - (Frontiers in electronic testing ; 30)
図書 <1001691675>
Oscillation-based test in mixed-signal circuits / by Gloria Huertas Sánchez ... [et al.]
Dordrecht : Springer , c2006. - (Frontiers in electronic testing ; 36)
図書 <1001819577>
Data Mining and Diagnosing IC Fails / by Leendert M. Huisman
Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc. , 2005. - (Frontiers in Electronic Testing ; 31)
電子ブック <1002983119>
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits / by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha
Boston, MA : Springer , 2005. - (Frontiers in Electronic Testing ; 30)
電子ブック <1002983141>
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization / by Erik Larsson
Boston, MA : Springer , 2005. - (Frontiers in Electronic Testing ; 29)
電子ブック <1002983235>
Emerging nanotechnologies : test, defect tolerance, and reliability / Mohammad Tehranipoor, editor
New York : Springer , c2008. - (Frontiers in electronic testing ; 37)
図書 <1002021841>