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検索キーワード:(標準分類: 621.3815/48)
該当件数:3件
Electronic test instruments : theory and applications / Robert A. Witte
Englewood Cliffs, N.J. : PTR Prentice Hall , c1993. - (Hewlett-Packard professional books)
図書 <1000464040>
Electron beam testing technology / edited by John T.L. Thong
New York : Plenum Press , c1993. - (Microdevices)
図書 <1000480163>
Principles of semiconductor network testing / Amir Afshar
Boston : Butterworth-Heinemann , c1995
図書 <1000536144>