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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #International Test Conference.)
該当件数:2件
Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. / sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Philadelphia Section
Washington, D.C. ; Los Angeles, CA : Computer Society Press of the IEEE : Order from Computer Society of the IEEE , c1987
図書 <1000631606>
New frontiers in testing : International Test Conference, 1988 proceedings, September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / sponsored by the Computer Society of the IEEE, Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
Washington, D.C. : Computer Society Press of the IEEE , c1988
図書 <1000587067>