テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 京都 : ナカニシヤ出版 |
| 出版年 | 2022.9 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | ix, 239p : 挿図 ; 26cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫5階 | 371.7:Mi663t |
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9784779516832 | 008465575 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 裏表紙タイトル:Item response theory 標題紙タイトル:test |
|---|---|
| 一般注記 | 参考文献: p233-237 事項索引: p238 人名索引: p.239 |
| 著者標目 | 光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ> |
| 件 名 | NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) |
| 分 類 | NDC9:371.7 |
| 巻冊次 | ISBN:9784779516832 ; PRICE:3300円+税 
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| ISBN | 9784779516832 |
| NCID | BC17143066 |
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