Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces / Dror Sarid
(Oxford series on optical sciences ; 2)
(Oxford series in optical and imaging sciences)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | New York : Oxford University Press , 1991 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 253 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | QC:173.4:S94:S27:1991 |
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000656337 |
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書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Sarid, Dror |
| 件 名 | LCSH:Scanning tunneling microscopy LCSH:Surfaces (Physics) |
| 分 類 | LCC:QC173.4.S94 DC20:502/.8/2 NDC8:549.97 |
| 巻冊次 | : alk. paper ; ISBN:0195062701 
|
| ISBN | 0195062701 |
| NCID | BA12878479 |
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