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LSI テスティング ハンドブック
LSIテスティングハンドブック / LSIテスティング学会編

データ種別 図書
出版者 東京 : オーム社
出版年 2008.11
本文言語 日本語
大きさ xii, 598p : 挿図 ; 22cm

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書庫2階 549.7:L955
9784274206320 005251287

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別書名 異なりアクセスタイトル:LSIテスティング : ハンドブック
一般注記 参考文献: 節末
索引: p[563]-598
著者標目 LSIテスティング学会 <LSI テスティング ガッカイ>
件 名 BSH:集積回路 -- 便覧  全ての件名で検索
NDLSH:大規模集積回路
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
巻冊次 ISBN:9784274206320 ; PRICE:11000円+税 REFWLINK
ISBN 9784274206320
NCID BA87814208 WCLINK
目次/あらすじ

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