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LSI テスティング ハンドブック
LSIテスティングハンドブック / LSIテスティング学会編
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : オーム社 |
| 出版年 | 2008.11 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | xii, 598p : 挿図 ; 22cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | 549.7:L955 |
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9784274206320 | 005251287 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:LSIテスティング : ハンドブック |
|---|---|
| 一般注記 | 参考文献: 節末 索引: p[563]-598 |
| 著者標目 | LSIテスティング学会 <LSI テスティング ガッカイ> |
| 件 名 | BSH:集積回路 -- 便覧
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NDLSH:大規模集積回路 |
| 分 類 | NDC8:549.7 NDC9:549.7 |
| 巻冊次 | ISBN:9784274206320 ; PRICE:11000円+税 
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| ISBN | 9784274206320 |
| NCID |
BA87814208 
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