LSI テスティング ハンドブック
LSIテスティングハンドブック / LSIテスティング学会編
データ種別 | 図書 |
---|---|
出版者 | 東京 : オーム社 |
出版年 | 2008.11 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | xii, 598p : 挿図 ; 22cm |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
書庫2階 | 549.7:L955 |
|
9784274206320 | 005251287 |
|
|
書誌詳細を非表示
別書名 | 異なりアクセスタイトル:LSIテスティング : ハンドブック |
---|---|
一般注記 | 参考文献: 節末 索引: p[563]-598 |
著者標目 | LSIテスティング学会 <LSI テスティング ガッカイ> |
件 名 | BSH:集積回路 -- 便覧
全ての件名で検索
NDLSH:大規模集積回路 |
分 類 | NDC8:549.7 NDC9:549.7 |
巻冊次 | ISBN:9784274206320 ; PRICE:11000円+税 ![]() |
ISBN | 9784274206320 |
NCID |
BA87814208 ![]() |
目次/あらすじ
類似資料
この資料の利用統計
全貸出数:0回
(3か月以内の貸出:0回)
※2002年7月22日以降