OPAC

検索結果一覧に戻る

The changing philosophy of test : International Test Conference, 1990 proceedings : September 10-14, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section

データ種別	図書
出版者	Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press
出版年	1990
大きさ	xvi, 1083 p. : ill. ; 29 cm

所蔵情報を非表示

配架場所	請求記号	巻　次	ISBN	資料番号	資料状態	利用注記	コメント	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1990		081869064X	000297246				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架

書誌詳細を非表示

一般注記	"IEEE catalog number 90CH2910-6"--T.p. verso Includes bibliographical references and index
著者標目	*International Test Conference (21st : 1990 : Washington, D.C.) IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee. IEEE Computer Society. Philadelphia Chapter.
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Electronic digital computers -- Circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Automatic checkout equipment -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC20:621.381/5
巻冊次	ISBN:081869064X
ISBN	081869064X

目次／あらすじ