Temporally distributed symptoms in technical diagnosis / K. Nökel
(Lecture notes in computer science ; 517. Lecture notes in artificial intelligence)
(Lecture notes in computer science ; 517)
(Lecture notes in computer science ; Lecture notes in artificial intelligence.)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; New York : Springer-Verlag |
| 出版年 | c1991 |
| 大きさ | ix, 164 p. : ill. ; 24 cm. -- |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | TA:169.6:N64:1991 |
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3540543163 | 000495822 |
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書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 157-162) |
|---|---|
| 著者標目 | *Nökel, K. (Klaus) |
| 件 名 | LCSH:Fault location (Engineering) LCSH:Expert systems (Computer science) |
| 分 類 | LCC:TA169.6 |
| 巻冊次 | ISBN:3540543163 
|
| ISBN | 3540543163 |
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