センタン ザイリョウ ヒョウカ ノ タメノ デンシ ケンビキョウ ギホウ
先端材料評価のための電子顕微鏡技法 / 日本電子顕微鏡学会関東支部編
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 朝倉書店 |
| 出版年 | 1991.12 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | xv,382p ; 27cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | 501.55:N713 |
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4254200536 | 000633873 |
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