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Proceedings / International Test Conference

データ種別	図書
出版者	Silver Spring, Md : IEEE Computer Society Press
出版年	c1983-
本文言語	英語
大きさ	v. : ill. ; 28 cm

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配架場所	請求記号	巻　次	ISBN	資料番号	資料状態	利用注記	コメント	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1992	1992		000937317				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1993	1993		001440353				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1994	1994		001744707				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1995	1995		002131445				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1996	1996		002544131				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1997	1997		002689212				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I474:1998	1998	0780350936	002805870				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架

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別書名	略タイトル:Proc. - Int. Test Conf キータイトル:Proceedings - International Test Conference 表紙タイトル:IEEE ... Test Conference 1983-1986 表紙タイトル:IEEE International Test Conference 1987- その他のタイトル:International Test Conference. Digest of papers
一般注記	Current frequency: Annual 1983- Some conferences also have distinctive titles Published: Altoona, PA : International Test Conference, <1995-> Indexed in its entirety by: Index to IEEE publications 0099-1368 Sponsored by the IEEE Computer Society, Test Technology Committee, and the IEEE, Philadelphia Section
著者標目	*International Test Conference IEEE Computer Society. Test Technology Committee Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
件　名	LCSH:Computer storage devices -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Semiconductor storage devices -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	DC12:004 LCC:TK7874
巻冊次	1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 ; ISBN:0780350936
ISBN	0780350936

目次／あらすじ