シンリ テスト ノ カクリツ モデル
心理テストの確率モデル / ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 名古屋 : 名古屋大学出版会 |
出版年 | 1985.8 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | xxviii, 237p ; 21cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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書庫8階 | 140.7:R177 |
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493068935X | 850179226 |
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書誌詳細を非表示
別書名 | 原タイトル:Probabilistic models for some intelligence and attainment tests |
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一般注記 | 著者の肖像あり 文献: p229~231 |
著者標目 | *Rasch, G. (Georg), 1901- 内田, 良男 <ウチダ, ヨシオ> |
件 名 | NDLSH:精神測定 |
分 類 | NDC8:140.7 NDLC:SB31 |
巻冊次 | ISBN:493068935X ; PRICE:3500円 |
ISBN | 493068935X |
NCID | BN00541130 |
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