Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state / Andreas Rosenauer
(Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler ; v. 182)
(Physics and astronomy online library)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版年 | c2003 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 238 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | QC:1:S797:v.182 |
|
3540004149 | 003862506 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Andreas Rosenauer |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Analysis
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LCSH:Semiconductors -- Microscopy 全ての件名で検索 LCSH:Transmission electron microscopy |
| 分 類 | LCC:QD139.S34 |
| 巻冊次 | ISBN:3540004149 
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| ISBN | 3540004149 |
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