ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : アグネ承風社 |
| 出版年 | 2003.7 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | xix, 429p : 挿図 ; 21cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | 428.4:B733h |
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4900508101 | 003871704 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy |
|---|---|
| 一般注記 | 引用文献: 各章末 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳 |
| 著者標目 | Briggs, D. Seah, M. P. 志水, 隆一 <シミズ, リュウイチ> 二瓶, 好正(1940-) <ニヘイ, ヨシマサ> 新SIMS研究会 <シン シムス ケンキュウカイ> |
| 件 名 | BSH:表面(工学上) BSH:イオンビーム BSH:質量分析 |
| 分 類 | NDC8:428.4 NDC9:428.4 |
| 巻冊次 | ISBN:4900508101 ; PRICE:8500円 
|
| ISBN | 4900508101 |
| NCID | BA62889819 |
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