New frontiers in testing : International Test Conference, 1988 proceedings, September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / sponsored by the Computer Society of the IEEE, Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Washington, D.C. : Computer Society Press of the IEEE |
出版年 | c1988 |
大きさ | xxx, 1005 p. : ill. ; 28 cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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2号館集密書庫(図書) | TK:7874:I593:1988 |
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0818608706 | 880394963 |
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別書名 | IEEE Conference Publications |
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一般注記 | "Computer Society order number 870." "IEEE catalog number 88CH2610-4." Includes bibliographies and index |
著者標目 | *International Test Conference. (1988 : Washington, D.C.) IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee. Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section. |
件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Testing Congresses
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分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.395 |
巻冊次 | ISBN:0818608706 |
ISBN | 0818608706 |
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