ICMTS 1991 : proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-20, 1991, Kyoto, Japan / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 出版年 | c1991 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 264 p. : ill. ; 28 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2号館集密書庫(図書) | TK:7874:I3236:1991 |
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000457383 |
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| 別書名 | Proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures 異なりアクセスタイトル:91CH29074 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index "90CH2907-4." |
| 著者標目 | *IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1991 : Kyoto, Japan) IEEE Electron Devices Society |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.381/5 |
| 巻冊次 | : soft. ; ISBN:0879425881  : case. ; ISBN:087942589X : micro. ; ISBN:0879425903
|
| ISBN | 0879425881 |
| NCID | BA12891036 |
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