IEEE transactions on reliability / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| データ種別 | 雑誌 |
|---|---|
| 出版情報 | New York |
| 巻次年月次 | 12 (1963)- |
| ISSN | 00189529 |
| 別書名 | 略タイトル:IEEE trans. reliab キータイトル:IEEE transactions on reliability |
| 変遷注記 | 継続前誌:IRE transactions on reliability and quality control / Institute of Radio Engineers |
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| 配架場所 | 所蔵巻次 | 年次 | コメント |
|---|---|---|---|
| 中央図書館(雑誌・紀要・新聞) | 12,15-52 | 1963-2003 | ただし、Vol.39(1990)以前の雑誌は2号館集密書庫に配架されています。 |
所蔵巻号一覧
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| 刊行頻度 | 季刊 (年4回刊) |
|---|---|
| NCID | AA00668109 |
| 本文言語 | 英語 |