ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
半導体デバイスの不良・故障解析技術 / 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著
(信頼性技術叢書)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 日科技連出版社 |
| 出版年 | 2019.12 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | viii, 218p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | 549.8:N734h |
|
9784817196859 | 008062266 |
|
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:半導体デバイスの不良故障解析技術 |
|---|---|
| 一般注記 | 監修: 信頼性技術叢書編集委員会 参考文献: 章末 |
| 著者標目 | 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ> 上田, 修 <ウエダ, オサム> 山本, 秀和 <ヤマモト, ヒデカズ> 信頼性技術叢書編集委員会 <シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ> |
| 件 名 | BSH:半導体 BSH:信頼性(工学) NDLSH:半導体 -- 品質管理 全ての件名で検索 |
| 分 類 | NDC8:549.8 NDC9:549.8 NDC10:549.8 |
| 巻冊次 | ISBN:9784817196859 ; PRICE:3300円+税 
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| ISBN | 9784817196859 |
| NCID | BB29632856 |
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