ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | 東京 : 養賢堂 , 2006.7 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | vii, 363p : 挿図 ; 21cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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書庫2階 | 501.322:Ta843 |
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484250384X | 007681080 |
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書誌詳細を非表示
別書名 | その他のタイトル:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 異なりアクセスタイトル:残留応力のX線評価 : 基礎と応用 異なりアクセスタイトル:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications |
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一般注記 | 欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 欧文タイトルは標題紙裏による 参考文献: 各章末 |
著者標目 | 田中, 啓介(1943-) <タナカ, ケイスケ> 鈴木, 賢治(1958-) <スズキ, ケンジ> 秋庭, 義明(1959-) <アキニワ, ヨシアキ> |
件 名 | NDLSH:応力 BSH:非破壊検査 BSH:歪測定 |
分 類 | NDC9:501.32 NDC9:501.322 |
巻冊次 | ISBN:484250384X ; PRICE:6000円+税 |
ISBN | 484250384X |
NCID | BA77874054 |
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