Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
(Physics and astronomy online library)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Berlin ; New York : Springer , 2001 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xix, 748 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | TA:417.23:F85:2001 |
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3540678417 | 003403361 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Fultz, B. Howe, James M., 1955- |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Transmission electron microscopy LCSH:X-ray diffractometer |
| 分 類 | LCC:TA417.23 |
| 巻冊次 | ISBN:3540678417 
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| ISBN | 3540678417 |
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