Defects in SiO[2] and related dielectrics : science and technology / edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D. L. Griscom
(NATO science series ; Sub-series II, Mathematics, Physics and Chemistry ; vol. 2)
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | Dordrecht : Kluwer Academic Publishers , c2000 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | viii, 624 p. : ill. ; 25 cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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書庫2階 | QD:181:S6:D43:2000 |
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0792366859 | 003355275 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index "Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology, Erice, Italy, April 8-20, 2000"--T.P. verso |
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著者標目 | NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology (2000 : Erice, Italy) Pacchioni, G. (Gianfranco), 1954- Skuja, L. (Linards) Griscom, David L. |
件 名 | LCSH:Silica -- Electric properties -- Congresses
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LCSH:Crystals -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:QD181.S6 DC21:548/.85 |
巻冊次 | ISBN:0792366859 : pbk ; ISBN:0792366867 |
ISBN | 0792366859 |
NCID | BA50677121 |
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