In situ real-time characterization of thin films : edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | New York : Wiley , c2001 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 263 p. : ill. ; 25 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | QC:176.83:I5:2001 |
|
0471241415 | 003345429 |
|
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Auciello, Orlando, 1945- Krauss, Alan Robert |
| 件 名 | LCSH:Thin films |
| 分 類 | LCC:QC176.83 |
| 巻冊次 | ISBN:0471241415 
|
| ISBN | 0471241415 |
目次／あらすじ
類似資料
この資料の利用統計
全貸出数：0回
(3か月以内の貸出：0回)
※2002年7月22日以降