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Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. / sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Philadelphia Section

データ種別	図書
出版者	Washington, D.C. ; Los Angeles, CA : Computer Society Press of the IEEE : Order from Computer Society of the IEEE
出版年	c1987
大きさ	xxxi, 1151 p. : ill. ; 28 cm

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配架場所	請求記号	巻　次	ISBN	資料番号	資料状態	利用注記	コメント	予約・取寄	申込書	仮想書架
2号館集密書庫(図書)	TK:7874:I593:1987		081860798X	870518515				予約・取寄	申込書	仮想書架	予約・取寄	申込書	仮想書架

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別書名	IEEE Conference publications
一般注記	"IEEE catalog no. 87CH2347-2." "Computer Society order no. 789." Includes bibliographies and index
著者標目	*International Test Conference. (18th : 1987 : Washington, D.C.) IEEE Computer Society. Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Testing Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Electronic digital computers -- Circuits Testing Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Automatic checkout equipment -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC19:621.381/73
巻冊次	ISBN:081860798X
ISBN	081860798X

目次／あらすじ