ICMTS 1996 : 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : March 25-28, 1996, Trento, Italy, proceedings / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Piscataway : IEEE Service Center |
| 出版年 | c1996 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 313 p. : ill. ; 28 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2号館集密書庫(図書) | TK:7874:I3236:1996 |
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002296263 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 背表紙タイトル:1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures 異なりアクセスタイトル:96CH35832 異なりアクセスタイトル:96CB35832 |
|---|---|
| 一般注記 | "IEEE catalog number: 96CH35832" |
| 著者標目 | *IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1996 : Trento, Italy) IEEE Electron Devices Society |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.381/5 |
| 巻冊次 | : soft. ; ISBN:0780327837  : case. ; ISBN:0780327845
|
| ISBN | 0780327837 |
| NCID | BA28695241 |
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