ICMTS 94 : proceedings of the 1994 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 22-25, 1994, San Diego, California / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Piscataway : IEEE Service Center |
| 出版年 | c1994 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 224 p. : ill. ; 28 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2号館集密書庫(図書) | TK:7874:I3236:1994 |
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001962822 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 背表紙タイトル:1994 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures 異なりアクセスタイトル:94CH3380-3 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index "94CH3380-3." |
| 著者標目 | *IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1994 : San Diego, Calif.) IEEE Electron Devices Society |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.381/5 |
| 巻冊次 | : soft. ; ISBN:0780317572  : case. ; ISBN:0780317580 : micro. ; ISBN:0780317599
|
| ISBN | 0780317572 |
| NCID | BA22804752 |
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