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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 科学技術からみたリスク / 益永茂樹責任編集 T2 リスク学入門 / 橘木俊詔 [ほか] 編集 A1 益永, 茂樹 YR 2013 FD 2013.3 SP xii, 182p K1 リスク ED 新装増補 PB 岩波書店 PP 東京 SN 9784000284806 LA Japanese (日本語) CL NDC8:301 CL NDC9:301 NO 執筆者: 住明正, 松田裕之, 山田友紀子, 甲斐倫明, 三宅淳巳, 星谷勝, 蒲生昌志 NO 科学技術関連文献解題: p173-178 NO 文献あり NO 書誌ID=1002600233; NCID=BB12262093; LK [OPAC]https://www.lib.sophia.ac.jp/opac/opac_link/bibid/1002600233 OL 58