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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 LSIの信頼性 / 二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著 T2 信頼性技術叢書 A1 二川, 清(1949-) A1 塩野, 登(1947-) A1 横川, 慎二(1970-) A1 福田, 保裕(1953-) A1 三井, 泰裕(1944-) A1 信頼性技術叢書編集委員会 YR 2010 FD 2010.10 SP viii, 183p, 図版 [2] p K1 集積回路 K1 信頼性(工学) K1 大規模集積回路 PB 日科技連出版社 PP 東京 SN 9784817193636 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549.7 CL NDC9:549.7 NO その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕 NO 監修者: 信頼性技術叢書編集委員会 NO 参考文献: 章末 NO 書誌ID=1002259740; NCID=BB03841227; LK [OPAC]https://www.lib.sophia.ac.jp/opac/opac_link/bibid/1002259740 OL 58