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ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三[ほか]著
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

データ種別 図書
出版者 東京 : 岩波書店
出版年 1985.5
本文言語 日本語
大きさ x, 313p ; 22cm

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集密書庫(図書) 549:I953:v.4
4000101846 850078769

書誌詳細を非表示

一般注記 参考書:p303~305
著者標目 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ>
件 名 NDLSH:集積回路
分 類 NDC8:549
NDLC:ND351
NDLC:ND386
巻冊次 ISBN:4000101846 ; PRICE:3300円 REFWLINK
ISBN 4000101846
NCID BN00059257 WCLINK
目次/あらすじ

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