Defects in SiO[2] and related dielectrics : science and technology / edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D. L. Griscom
(NATO science series ; Sub-series II, Mathematics, Physics and Chemistry ; vol. 2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Dordrecht : Kluwer Academic Publishers |
| 出版年 | c2000 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | viii, 624 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | QD:181:S6:D43:2000 |
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0792366859 | 003355275 |
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書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index "Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology, Erice, Italy, April 8-20, 2000"--T.P. verso |
|---|---|
| 著者標目 | NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology (2000 : Erice, Italy) Pacchioni, G. (Gianfranco), 1954- Skuja, L. (Linards) Griscom, David L. |
| 件 名 | LCSH:Silica -- Electric properties -- Congresses
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LCSH:Crystals -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QD181.S6 DC21:548/.85 |
| 巻冊次 | ISBN:0792366859  : pbk ; ISBN:0792366867
|
| ISBN | 0792366859 |
| NCID | BA50677121 |
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