LSI ノ シンライセイ
LSIの信頼性 / 二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著
(信頼性技術叢書)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : 日科技連出版社 |
出版年 | 2010.10 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | viii, 183p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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書庫2階 | 549.7:N733 |
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9784817193636 | 005812770 |
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書誌詳細を非表示
別書名 | 異なりアクセスタイトル:LSIの信頼性 |
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一般注記 | その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕 監修者: 信頼性技術叢書編集委員会 参考文献: 章末 |
著者標目 | 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ> 塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル> 横川, 慎二(1970-) <ヨコガワ, シンジ> 福田, 保裕(1953-) <フクダ, ヤスヒロ> 三井, 泰裕(1944-) <ミツイ, ヤスヒロ> 信頼性技術叢書編集委員会 <シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ> |
件 名 | BSH:集積回路 BSH:信頼性(工学) NDLSH:大規模集積回路 |
分 類 | NDC8:549.7 NDC9:549.7 |
巻冊次 | ISBN:9784817193636 ; PRICE:3000円+税 |
ISBN | 9784817193636 |
NCID | BB03841227 |
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