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LSI ノ シンライセイ
LSIの信頼性 / 二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著
(信頼性技術叢書)

データ種別 図書
出版者 東京 : 日科技連出版社
出版年 2010.10
本文言語 日本語
大きさ viii, 183p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm

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書庫2階 549.7:N733
9784817193636 005812770

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別書名 異なりアクセスタイトル:LSIの信頼性
一般注記 その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕
監修者: 信頼性技術叢書編集委員会
参考文献: 章末
著者標目 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ>
塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル>
横川, 慎二(1970-) <ヨコガワ, シンジ>
福田, 保裕(1953-) <フクダ, ヤスヒロ>
三井, 泰裕(1944-) <ミツイ, ヤスヒロ>
信頼性技術叢書編集委員会 <シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ>
件 名 BSH:集積回路
BSH:信頼性(工学)
NDLSH:大規模集積回路
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
巻冊次 ISBN:9784817193636 ; PRICE:3000円+税 REFWLINK
ISBN 9784817193636
NCID BB03841227 WCLINK
目次/あらすじ

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