The changing philosophy of test : International Test Conference, 1990 proceedings : September 10-14, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press , 1990 |
大きさ | xvi, 1083 p. : ill. ; 29 cm |
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配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
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2号館集密書庫(図書) | TK:7874:I474:1990 |
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081869064X | 000297246 |
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一般注記 | "IEEE catalog number 90CH2910-6"--T.p. verso Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | *International Test Conference (21st : 1990 : Washington, D.C.) IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee. IEEE Computer Society. Philadelphia Chapter. |
件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses
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分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.381/5 |
巻冊次 | ISBN:081869064X |
ISBN | 081869064X |
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