Autotestcon '87 : proceedings, San Francisco, November 3-5, IEEE International Automatic Testing Conference, Moscone Center, San Francisco, CA / sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | New York, N.Y. ; Piscataway, NJ : IEEE : Copies from Order Dept., IEEE , c1987 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xvii, 494 p. : ill. ; 28 cm |
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2号館集密書庫(図書) | TJ:213:A837:1987 |
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870267262 |
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| 別書名 | IEEE Conference publications |
|---|---|
| 一般注記 | "87CH2510-6." Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | *Autotestcon (1987 : San Francisco, Calif.) Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 件 名 | LCSH:Automatic checkout equipment -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TJ213 DC19:681/.2 |
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