ハンドウタイ ザイリョウ ノ ケッカン ヒョウカ ギジュツ : GaAs キバン ヒョウカ・Si MOS カイメン ヒョウカ
半導体材料の欠陥評価技術 : GaAs基板評価・Si MOS界面評価
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : サイエンスフォ-ラム , 1985.4 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 419p ; 31cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | ISBN | 資料番号 | 資料状態 | 利用注記 | コメント | 予約・取寄 | 申込書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫2階 | 549.8:H297 |
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880248019 |
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